Microssonda Iônica de Alta Resolução e de Alta Sensibilidade (SHRIMP IIe/MC) do Instituto de Geociências da Universidade de São Paulo, Brasil: método analítico e primeiros resultados

Este trabalho apresenta as características de espectrômetro de massa de íons secundários acoplado com uma Microssonda Iônica de Alta Resolução, do tipo SHRIMP IIe/MC, instalada no Instituto de Geociências da Universidade de São Paulo (IGc-USP), bem como os respectivos procedimentos analíticos e os...

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Bibliographic Details
Main Authors: Kei Sato, Colombo Celso Gaeta Tassinari, Miguel Angelo Stipp Basei, Oswaldo Siga Júnior, Artur Takashi Onoe, Maurício Dias de Souza
Format: Article
Language:English
Published: Universidade de São Paulo 2014-09-01
Series:Geologia USP. Série Científica
Online Access:http://www.revistas.usp.br/guspsc/article/view/85372