Estimativa da área foliar do feijão-vagem (Phaseolus vulgaris L.) por meio da largura máxima do folíolo central Model to estimate the leaf area of snap bean

• Main Authors: Joel L. Queiroga, Euclides D. U. Romano, José R. P. Souza, Édison Miglioranza
• Format: Article
• Language: English
• Published: Associação Brasileira de Olericultura 2003-03-01
• Series: Horticultura Brasileira
• Subjects: Phaseolus vulgaris L.; método não-destrutivo; medida linear; non-destructive method; linear measure
• Online Access: http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0102-05362003000100013

O experimento objetivou estabelecer um modelo matemático para estimar a área foliar de feijão-vagem de crescimento determinado por meio da largura máxima do folíolo central. As medidas foram realizadas em seis plantas (método não-destrutivo) e em quatro plantas (método destrutivo) aos 21, 30, 37, 44 e 51 dias após a emergência. A área foliar real foi determinada por meio do medidor "Area Meter" (modelo LICOR LI-3000). Os modelos matemáticos obtidos por regressão foram aplicados aos métodos destrutivos e não destrutivos, e comparados à área foliar estimada e a real. O modelo de potência (AF = 0,1026*L1,6871, R²=0,98) estima a área foliar (AF) de plantas de feijão-vagem de crescimento determinado, portanto a largura máxima do folíolo central (L) pode ser usada para determinar a área foliar pelo método não-destrutivo.<br>An experiment was conducted to establish a mathematical model based on the linear measurement of the maximum width of the central leaflet to estimate the leaf area of determinate type of snap bean. The measurements were made using the non-destructive method in six plants and the destructive method in four plants on the 21, 30, 37, 44 and 51 days after emergence. The area of each leaflet was obtained by using an area meter LICOR LI-3000 model. The models, obtained by regression, were tested in destructive and non-destructive methods comparing the estimated and the measured leaf area. The model AF = 0.1026*L1,6871 (R²=0.98) was effective to estimate the leaf area (AF) of snap bean plants in non-destructive way showing that the maximum width of the central leaflet (L) estimates the real leaf area.