Measurement and correction of aberrations in light and electron microscopy
La diffraction constitue une limite fondamentale en microscopie, mais souvent cette limite n'est même pas atteinte. Des imperfections dans la formation d'image, appelées aberrations, peuvent être induites par le microscope ou l'échantillon. Un élément actif, dit correcteur, est intégr...
| Main Author: | |
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| Language: | ENG |
| Published: |
Université Pierre et Marie Curie - Paris VI
2012
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| Online Access: | http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00827686 http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/82/76/86/PDF/PhDthesis_JonasBinding.pdf |