Applications de la cartographie en émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging) pour l'analyse de défaillance des composants VLSI

• Main Author: Bascoul, Guillaume
• Language: FRE
• Published: Université Sciences et Technologies - Bordeaux I 2013
• Subjects: [SPI:OTHER] Engineering Sciences/Other; [PHYS:COND:CM_GEN] Physics/Condensed Matter/Other; Cartographie en Emission de lumière dynamique; Analyse de défaillance microélectronique; Détection de photons en temps résolu
• Online Access: http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00880532; http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/88/05/32/PDF/BASCOUL_GUILLAUME_2013.pdf

Les technologies VLSI (" Very large Scale Integration ") font partie de notre quotidien et nos besoins en miniaturisation sont croissants. La densification des transistors occasionne non seulement des difficultés à localiser les défauts dits " hard " apparaissant durant les phases de développement (débug) ou de vieillissement, mais aussi l'apparition de comportements non fonctionnels purs du composant liées à des défauts de conception. Les techniques abordées dans ce document sont destinées à sonder les circuits microélectroniques à l'aide d'un outil appelé émission de lumière dynamique (Time Resolved Imaging - TRI) à la recherche de comportements anormaux au niveau des timings et des patterns en jeu dans les structures. Afin d'aller plus loin, cet instrument permet également la visualisation thermographique en temps résolue de phénomènes thermiques transitoires au sein d'un composant.