專利之品質與價值評量方法—以TFT-LCD產業為例
近年來，提昇專利品質的觀念已在企業間蔓延開來，而擁有一套能夠有效衡量的分析評量工具，為企業評估專利價值的先決條件。目前坊間評估專利價值較普遍的方式為CHI Research所發展，以「專利引證資訊」及「專利數量」作為公式的計算基礎。然而專利之品質要素並非現行專利分析公式及其指標所能完全涵蓋及內化，與商業價值亦無直接對應關係。為了改善上述之問題，本研究試圖從實務的觀點出發，找出並分析品質優良之專利說明書，其共通之特色為何，以及如何評估專利實際替企業創造的利益。本研究擬就下列問題進行討論： 問題一：目前常用的以「專利引證資訊」及「專利說明書可量化數據」為基礎之專利價值評量模式是否可靠？ 問題二：...
| Main Authors: | , |
|---|---|
| Language: | 中文 |
| Published: |
國立政治大學
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://thesis.lib.nccu.edu.tw/cgi-bin/cdrfb3/gsweb.cgi?o=dstdcdr&i=sid=%22G0923590391%22. |