CMOS元件加速壽命試驗與分析之個案研究
碩士 === 國立清華大學 === 工業工程研究所 === 76 === IC產品是今日高科技的結晶，大半用於精密商業或軍事設備上，其可靠度極為重要， 而要如何以簡單的統計分析，並能提供產品可靠度訊息，而引起本人對IC作ESS 之加 速壽命試驗研究的動機。 本研究主要的目：（１）規劃－ALT 及分析的程序，以作為廠商的參考。（２）以傳 統統計方法及貝氏估計找出產品壽命曲線，以便預燒時間、MTTF及保證時間之決定。...
| Main Authors: | , |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | zh-TW |
| Published: |
1988
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| Online Access: | http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/54435663695216173614 |