以標準細胞原件庫設計之記憶體時序量測電路
碩士 === 國立清華大學 === 電機工程學系 === 99 === 在現今的電子產品當中,幾乎所有的產品都會有記憶體元件在晶片中。如果我們沒有記憶體相關的時序參數,將會很難對產品下定規格。傳統上會使用測試機台對記憶體的時序參數做量測。然而,一些測試機台的周邊器材,像是探針以及與晶片之間連接的傳輸線等等,都會造成一些額外的延遲時間,這會導致量測結果的誤差。另外,針對系統晶片(system-on-chip),我們很難直接存取內部記憶體的輸入輸出訊號。因此我們需要一個內嵌式解決方案。在這篇論文裡面,我們提出一種能量測記憶體時序參數的架構。它能夠量測準備/保持時間 (setup/hold Time...
Main Authors: | Chang, Yi-Chung, 張譯中 |
---|---|
Other Authors: | Huang, Shi-Yu |
Format: | Others |
Language: | en_US |
Published: |
2011
|
Online Access: | http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/84067966660232557618 |
Similar Items
-
標準元件庫效能及功能評估之測試電路設計
by: 周碩修 -
符合SCORM標準之教材元件庫管理系統設計
by: 簡學文
Published: (2003) -
鍺銻合金相變化記憶體元件開發製作暨量測分析
by: 賴文彥
Published: (2010) -
鍺銻合金相變化記憶體元件製作暨電性量測
by: Chen, Chih Chenge, et al.
Published: (2010) -
電子斑點圖形干涉儀振動量測之邊緣增強電路
by: 涂堂焄
Published: (2001)