Élaboration de nouvelles méthodologies d’évaluation de la fiabilité de circuits nanoélectroniques
Ce travail constitue une contribution à l’étude de la synergie entre le vieillissement accéléré et l’évolution de la robustesse aux évènements singuliers pour les technologies MOS avancées. Ce manuscrit expose le travail fait autour de la Caractérisations des mécanismes de dégradation NBTI, HCI, TDD...
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| Language: | fr |
| Published: |
2012
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2012BOR14650/document |