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1by Ros Bengoetxea, Onintza“... to the nanometer scale. Extreme metrology and process control are required and Critical Dimension Uniformity (CDU...”
Published 2016
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2by Kumar, Pushpendra“... FDSOI technologies HKMG stack processes on the electrical performance of MOS transistors. It concerns...”
Published 2018
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7by Nouri, Ahmed“.... L’application des bons paramètres de chauffage et l’homogénéisation du bain ont permis de contrôler la...”
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12by Jeannin, Mathieu Emmanuel“.... The variability in the emission properties of the NWQDs due to inhomogeneity in the growth process are evidenced...”
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15by Martirosyan, Vahagn“... is proposed to optimize this first step of the Smart Etch process and to control the modification of SiN...”
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16by Turcaud, Sébastien“... contrôlé par la diffusion, où l'eigenstrain est appliquée progressivement au lieu de instantanément, motivé...”
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18by Cerf, SophieSubjects: “...Contrôle pour les systèmes informatiques...”
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