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Radiative Decay Branching Ratio of the Hoyle State in 12C via Charged Particle Coincidence Techniques by Dell’Aquila D., Lombardo I., Redigolo L., Vigilante M., Angelini F., Baldesi L., Barlini S., Best A., Camaiani A., Casini G., Ciampi C., Cicerchia M., D’Andrea M., Diklić J., Fabris D., Gongora Servin B., Gottardo A., Gramegna F., Imbriani G., Marchi T., Massara A., Mengoni D., Ordine A., Palada L., Pasquali G., Piantelli S., Pilotto E., Rapagnani D., Sigmund M., Stefanini A., Stramaccioni D., Tagnani D., Tišma I., Valdré S., Verde G., Vukman N.

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