Search Results - Ferragut R.

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  1. 1

    Defect Characterization in SiGe/SOI Epitaxial Semiconductors by Positron Annihilation by Ferragut R, Calloni A, Dupasquier A, Isella G

    Published in Nanoscale Research Letters (2010-01-01)
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  2. 2

    AEg̅IS latest results by Guatieri F., Aghion S., Amsler C., Angela G., Bonomi G., Brusa R.S., Caccia M., Caravita R., Castelli F., Cerchiari G., Comparat D., Consolati G., Demetrio A., Di Noto L., Doser M., Evans C., Fanì M., Ferragut R., Fesel J., Fontana A., Gerber S., Giammarchi M., Gligorova A., Haider S., Hinterberger A., Holmestad H., Kellerbauer A., Krasnický D., Lagomarsino V., Lansonneur P., Lebrun P., Malbrunot C., Mariazzi S., Matveev V., Mazzotta Z., Müller S.R., Nebbia G., Nedelec P., Oberthaler M., Pacifico N., Pagano D., Penasa L., Petracek V., Prelz F., Prevedelli M., Rienaecker B., Robert J., Rhne. O.M., Rotondi A., Sacerdoti M., Sandaker H., Santoro R., Simon M., Smestad L., Sorrentino F., Testera G., Tietje I.C., Widmann E., Yzombard P., Zimmer C., Zmeskal J., Zurlo N.

    Published in EPJ Web of Conferences (2018-01-01)
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