نتائج البحث - Martin Rack

  • يعرض 1 - 2 نتائج من 2
تنقيح النتائج
  1. 1

    Probe-Dependent Residual Error Analysis for Accurate On-Wafer MOSFET Measurements up to 110 GHz حسب Lucas Nyssens, Shiqi Ma, Martin Rack, Dimitri Lederer, Jean-pierre Raskin

    الحاوية / القاعدة IEEE Journal of the Electron Devices Society (2023-01-01)
    احصل على النص الكامل
    مقال


  2. 2

    A SPDT RF Switch Small- and Large-Signal Characteristics on TR-HR SOI Substrates حسب Babak Kazemi Esfeh, Martin Rack, Sergej Makovejev, Frederic Allibert, Jean-Pierre Raskin

    الحاوية / القاعدة IEEE Journal of the Electron Devices Society (2018-01-01)
    احصل على النص الكامل
    مقال


أدوات البحث: