نتائج البحث - Xi-Wei Lin
- يعرض 1 - 2 نتائج من 2
-
1
Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part II: Random Telegraph Noise حسب Gerardo Malavena, Salvatore M. Amoroso, Andrew R. Brown, Plamen Asenov, Xi-Wei Lin, Victor Moroz, Mattia Giulianini, David Refaldi, Christian Monzio Compagnoni, Alessandro S. Spinelli
الحاوية / القاعدة IEEE Journal of the Electron Devices Society (2024-01-01)احصل على النص الكامل
مقال -
2
Discrete-Trap Effects on 3-D NAND Variability – Part I: Threshold Voltage حسب Gerardo Malavena, Salvatore M. Amoroso, Andrew R. Brown, Plamen Asenov, Xi-Wei Lin, Victor Moroz, Mattia Giulianini, David Refaldi, Christian Monzio Compagnoni, Alessandro S. Spinelli
الحاوية / القاعدة IEEE Journal of the Electron Devices Society (2024-01-01)احصل على النص الكامل
مقال