Addressing the effect of stacking faults in X-ray diffractograms of graphite through atom-scale simulations

Determining the average contribution and actual distribution of rhombohedral stacking sequences within the average graphitic crystallite remained unsolved. To address this issue, we used a bottom-up approach to simulate X-ray diffractograms of graphite crystallites up to one million atoms in various...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

الحاوية / القاعدة:	Carbon Trends
المؤلفون الرئيسيون:	Pascal Puech, Mathilde Jeanningros, David Neumeyer, Marc Monthioux
التنسيق:	مقال
اللغة:	الإنجليزية
منشور في:	Elsevier 2023-12-01
الموضوعات:	X-ray diffraction Graphite Structure Stacking faults, Modeling
الوصول للمادة أونلاين:	http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2667056923000664