A Novel Fault Identification Method Driven by Knowledge and Data

In the field of intelligent manufacturing, fault identification is an effective way to improve product service by identifying the cause of failures. For addressing it, the Generalized Bayesian Network (GBN) model is extended based on the traditional Bayesian Network in this paper, which redefines th...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية
الحاوية / القاعدة:IEEE Access
المؤلفون الرئيسيون: Qihao Wan, Heming Zhang
التنسيق: مقال
اللغة:الإنجليزية
منشور في: IEEE 2022-01-01
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ieeexplore.ieee.org/document/9754576/