Sılar metodu ile hazırlanan Cu2O ince filmlerin fiziksel özellikleri

• Main Authors: Doğan Özaslan, Mustafa Güneş, Cebrail Gümüş
• Format: Article
• Language: English
• Published: Pamukkale University 2017-12-01
• Series: Pamukkale University Journal of Engineering Sciences
• Subjects: Silar method; Thin film; Cu2O; Physical properties; Silar metodu; İnce film; Fiziksel özellikler
• Online Access: http://dergipark.gov.tr/pajes/issue/33120/377669?publisher=pamukkale
• ISSN: 1300-7009; 2147-5881

Silar metodu kullanılarak 70 °C’de cam alttabanlar üzerine polikristal Cu2O ince filmleri elde edildi. XRD analizleri filmlerin kübik yapıda olduğunu gösterdi ve örgü parametreleri hesaplandı. Filmlerin yüzey morfolojisi alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu (FE-SEM) ile görüntülendi. Filmlerin optik özelliklerini belirlemek için UV/vis spektrofotometresi kullanılmıştır. Filmlerin oda sıcaklığındaki optik geçirgenlik (% T) değerleri 300-1100 nm dalga boyu aralığında belirlenmiştir. Yarıiletken Cu2O ince filmlerinin görünür bölgedeki optik geçirgenlik değerleri %50-70 olarak bulunmuştur. Filmlerin enerji bant aralığı değerleri (Eg) 2.53-2.62 eV bulundu.