CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu

CdS İnce Filmlerinin Değişik Açılarda Spektroelipsometrik Karakterizasyonu

Bu çalışmada, CdS ince filmleri ultrasonik kimyasal püskürtme tekniği kullanılarak üretildi. CdS ince filmlerinin optik özellikleri spektroskopik elipsometre ve UV-VIS spektrofotometre kullanılarak belirlendi. Cam tabanlar üzerine depolanan CdS ince filmlerinin optik özellikleri değişken açılardaki...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Olcay GENÇYILMAZ, Ferhunde ATAY, İdris AKYÜZ
Format: Article
Language:English
Published: Suleyman Demirel University 2014-12-01
Series:Süleyman Demirel Üniversitesi Fen-Edebiyat Fakültesi Fen Dergisi
Subjects:
-
CdS thin film
spectroscopic ellipsometry
thickness
optical constants and transmittance
CdS ince filmleri
spektroskopik elipsometre
kalınlık
optik sabitler
geçirgenlik
Online Access:http://dergipark.gov.tr/sdufeffd/issue/11280/134806?publisher=sdu-1

Internet

http://dergipark.gov.tr/sdufeffd/issue/11280/134806?publisher=sdu-1

Similar Items