Test en ligne des systèmes digitaux linéaires

• Main Author: Abdelhay, A.
• Language: FRE
• Published: 2001
• Subjects: [SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics; systèmes digitaux linéaires
• Online Access: http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00163415; http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/16/34/15/PDF/tls_121.pdf

Le test en ligne assure une fonction de surveillance, permettant de combler les lacunes des techniques classiques de test hors ligne en ce qui concerne les aspects de sûreté de fonctionnement. Les systèmes digitaux linéaires représentent une classe importante de circuits utilisés dans nombreuses applications critiques militaire, nucléaire, spatiale etc.Pour cela, le problème de test en ligne des systèmes digitaux linéaires est très important car une erreur de données pendant le fonctionnement normal peut entraîner de graves conséquences.L'objet de ce travail de thèse est d'étudier et d'implémenter une nouvelle approche de conception et d'intégration des détecteurs de défauts en ligne pour les systèmes digitaux linéaires. La méthode proposée, de détection de fautes, est basée sur l'exploitation de la redondance analytique décrivant les relations entre l'historique des signaux d'entrées et de sorties du système sous test. Les algorithmes développés permettent aussi d'assurer une sensibilité minimale des détecteurs aux bruits alors qu'elle est maximale pour les fautes.