Fiabilité des Mémoires Non-Volatiles de type Flash en architectures NOR et NAND

Fiabilité des Mémoires Non-Volatiles de type Flash en architectures NOR et NAND

Cette thèse étudie divers aspects de la fiabilité des mémoires, notamment les tests en endurance et les tenues en rétention sur des mémoires Flash, en architectures NOR et NAND. Nous abordons différentes méthodes de programmation existantes dans la littérature, à savoir l'utilisation de signaux...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Postel-Pellerin, Jérémy
Language:FRE
Published: Université de Provence - Aix-Marseille I 2008
Subjects:
[SPI:NANO] Engineering Sciences/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Fiabilité des Mémoires Non-Volatiles
EEPROM
FLASH
Architecture NOR
Architecture NAND
Cellules Multiniveaux
<br />Caractérisation Electrique
Cyclage
Rétention
Injection Fowler-Nordheim
Mécanismes de dégradation des<br />oxydes
Modélisation
Simulation TCAD 2D et 3D
Capacités de couplages parasites
Online Access:http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00370377
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/37/03/77/PDF/These_Jeremy_Postel-Pellerin_Decembre_2008.pdf

Internet

http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00370377
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/37/03/77/PDF/These_Jeremy_Postel-Pellerin_Decembre_2008.pdf

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