Komplexe Röntgendiffraktometrie an Dünnschichtsystemen
Ziel dieser Arbeit war es, die in der Professur Oberflächen- und Grenzflächenphysik hergestellten Schichtsysteme strukturell zu charakterisieren. Mit Hilfe der Röntgendiffraktometrie (XRD) ist es möglich, die Phasen und die Orientierung der aufgewachsenen Schicht zu bestimmen. Mit einem weiteren Ver...
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| Format: | Dissertation |
| Language: | deu |
| Published: |
Universitätsbibliothek Chemnitz
2005
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:swb:ch1-200500358 http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:swb:ch1-200500358 http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/4958/data/diplomarbeit_mildner.pdf http://www.qucosa.de/fileadmin/data/qucosa/documents/4958/20050035.txt |