Abordagem sistêmica de análise metrológica aplicada na calibração de baixa umidade

Este trabalho tem como objetivo apresentar uma abordagem sistêmica para realização de análise metrológica de sistemas de calibração. As atividades de análise metrológica realizadas por diversos autores e os conceitos da engenharia de sistemas servem como base para o desenvolvimento do trabalho. A pa...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Alberto de Paula Silva
Other Authors: Ricardo Sutério
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Instituto Tecnológico de Aeronáutica 2014
Subjects:
Online Access:http://www.bd.bibl.ita.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=3037
Description
Summary:Este trabalho tem como objetivo apresentar uma abordagem sistêmica para realização de análise metrológica de sistemas de calibração. As atividades de análise metrológica realizadas por diversos autores e os conceitos da engenharia de sistemas servem como base para o desenvolvimento do trabalho. A partir dessa abordagem sistêmica, são propostos estrutura, escopo e ciclo de análise metrológica, a fim de estabelecer um processo que possa ser replicado e que possa auxiliar o desenvolvimento e atualização de um sistema de calibração. O processo inclui identificação de requisitos, acompanhamento de soluções e iteratividade. A abordagem sistêmica de análise metrológica foi aplicada a um sistema de calibração de baixa umidade. O resultado mostra que quanto mais abrangente e estruturada for a análise, maior é a possibilidade de o sistema atender os requisitos necessários.