Caracterização de monocristais com análise do perfil de difração e topografia de raios X simultâneos

Resumo: O conhecimento das propriedades cristalinas de semicondutores e de grande importancia para o uso e a aplicacao nos recentes avancos tecnologicos, bem como para aprimorar o processo de obtencao e crescimento. Para a caracterizacao de defeitos em cristais sao empregadas duas tecnicas principai...

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Bibliographic Details
Main Author: Tasca, Kelin Regina
Other Authors: Mazzaro, Irineu
Format: Others
Language:Portuguese
Published: 2011
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/1884/25713