Procedimento de teste para deteccao de falhas no processador transputer
Procedimentos de teste para dispositivos eletrônicos tem sido construídos de forma a lidar com problemas, tais como geração de padrões de teste, cobertura de falhas e outros parâmetros tais como custo e tempo. Com o surgimento dos circuitos VLSI (Very Large Scale Integration), tais como os processad...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Format: | Others |
| Language: | Portuguese |
| Published: |
2010
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10183/21341 |