Análise comparativa da topografia e presença de impurezas de implantes dentais com superfície texturizada por meio de microscopia eletrônica de varredura (MEV)

Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro de Ciências da Saúde. Programa de Pós-Graduação em Odontologia. === Made available in DSpace on 2012-10-21T13:08:28Z (GMT). No. of bitstreams: 1 203835.pdf: 10797340 bytes, checksum: bfd0a2cbac605c338cdfb3cadf47f950 (MD5) === O...

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Bibliographic Details
Main Author: Castro, Kavio Narciso de Oliveira
Other Authors: Universidade Federal de Santa Catarina
Format: Others
Language:Portuguese
Published: Florianópolis, SC 2012
Subjects:
Online Access:http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/86987
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spelling ndltd-IBICT-oai-repositorio.ufsc.br-123456789-869872019-01-21T16:05:22Z Análise comparativa da topografia e presença de impurezas de implantes dentais com superfície texturizada por meio de microscopia eletrônica de varredura (MEV) Castro, Kavio Narciso de Oliveira Universidade Federal de Santa Catarina Zendron, Mario Vinicius Odontologia Microscopia eletronica de varredura Implantes dentarios endoosseos Implantes dentários Protese dentaria Titanio Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro de Ciências da Saúde. Programa de Pós-Graduação em Odontologia. Made available in DSpace on 2012-10-21T13:08:28Z (GMT). No. of bitstreams: 1 203835.pdf: 10797340 bytes, checksum: bfd0a2cbac605c338cdfb3cadf47f950 (MD5) O objetivo desta análise comparativa foi observar qualitativamente, por meio de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), as variações microscópicas topográficas e a presença de impurezas em cinco fabricantes de implantes osteointegráveis submetidos a diferentes processos de texturização: Conexão (Grupo 1); 3i (Grupo 2); Neodent (Grupo 3); SIN (Grupo 4); Titanium fix (Grupo 5). De acordo com os resultados foi possível concluir que, no aspecto topográfico os fabricantes SIN (G4) e 3i (G2) foram estatisticamente equivalentes, em um nível de significância de 1% e melhores que todos os demais, exibindo uma característica topográfica desejável. Os fabricantes Conexão (G1), Neodent (G3) e Titanium fix (G5) mostraram diferenças significantes entre si, em um nível de significância de 1% e padrões de texturização variáveis. No aspecto presença de impurezas os fabricantes Neodent (G3) e Conexão (G1) foram equivalentes entre si, em um nível de significância de 1% e melhores que todos os demais, mostrando superfícies mais livres de impurezas que todos os demais. Os fabricantes SIN (G4) e 3i (G2) foram equivalentes entre si, em um nível de significância de 1%, exibindo superfícies com uma certa quantidade de impurezas e melhores que o fabricante Titanium fix, que se mostrou inferior a todos os demais, exibindo superfícies com grande quantidade de impurezas. 2012-10-21T13:08:28Z 2012-10-21T13:08:28Z 2004 2004 info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/86987 203835 por info:eu-repo/semantics/openAccess xxiii, 167 f.| il., tabs. Florianópolis, SC reponame:Repositório Institucional da UFSC instname:Universidade Federal de Santa Catarina instacron:UFSC
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Castro, Kavio Narciso de Oliveira
Análise comparativa da topografia e presença de impurezas de implantes dentais com superfície texturizada por meio de microscopia eletrônica de varredura (MEV)
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