Medida precisa de parâmetros da rede cristalina por difração múltipla de raios-X

• Main Author: Portugal Postigo, Remberto Jose
• Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
• Format: Others
• Language: Portuguese
• Published: [s.n.] 1979
• Subjects: Raios X - Difração; Cristais - Propriedades físicas
• Online Access: PORTUGAL POSTIGO, Remberto Jose. Medida precisa de parâmetros da rede cristalina por difração múltipla de raios-X. 1979. 110 f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277095>. Acesso em: 17 jul. 2018.; http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277095

Orientador: Stephenson Caticha Ellis === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-07-17T06:53:03Z (GMT). No. of bitstreams: 1 PortugalPostigo_RembertoJose_M.pdf: 3689329 bytes, checksum: b8c02fdea8eb1f616c8f874585f68792 (MD5) Previous issue date: 1979 === Resumo: A sensibilidade S da medida de parâmetros de rede por meio da Difração múltipla ( D.M. ) de raios-X ( S. Caticha Ellis, Japan J. Appl. Phys. (1975), 14, 603-611 ) é dada por: S = 1/( gtanf cos2q1 ), onde g = /a, q1 o ângulo de Bragg para a reflexão primária, e f o ângulo formado pelo vetor reciproco H da reflexão secundária; com o plano de incidência quando H está em posição de reflexão: Pares de Reflexões múltiplas com S alto foram escolhidos e o valor do parâmetro a calculado a partir da diferença angular azimutal entre cada par. Para mono-cristais de Germânio, CuKa1 e reflexão primária ( 222 ), foram escolhidos os seguintes pares de picos : (135') ( 315' ), ( 5'13 ) ( 5'31 ), ( 11'7 ) ( 1'17 ) e ( 711' ) ( 71'1 ) todos eles verificam; 1 ) o ângulo f é o mais pequeno dando então o maior valor de S. 2 ) A separação angular da posição dos picos para cada um destes pares é de aproximadamente 0,22°, que pode ser medida diretamente. 3 ) Os quatro pares envolvem só reflexões fracas. Assim. sendo, deslocamentos dos picos devido a interações dinâmicas não são levadas em conta. O experimento foi realizado usando um gerador microfoco ajustado para se ter um foco pontual de raios-X de 50 x 50 mm, monocromatizados por um cristal curvo de quartzo ( 101'1 ). A separação angular de cada par de reflexões foi medida girando o cristal com uma velocidade de 0,003 °/min com um erro de aproximadamente 10-5 °/min. São apresentados resultados para um cristal perfeito e para um imperfeito === Abstract: The sensitivity s of the measurement of lattice parameter by means of multiple diffraction ( MD ) of X-rays ( S. Caticha-Ellis, Jap, J. App1. Phys. ( 1975 ), 14, 603-611 ) is given by S = 1/( gtanf cos2q1 ), where g = /a, q1 is the Bragg angle for the primary reflection and f is the angle formed by the RELV H of the secondary reflection with the plane of incidence when H is in a reflecting position. Pairs of MD reflections with high S were chosen and the value of the parameter a calculated from the azimutal angle difference within each pair. For Ge single crystals, CuKa1 and primary reflection 222, the following four pairs were chosen: ( 135' ) ( 315' ), ( 5'13 ) ( 5'31 ), ( 11'7 ) ( 1'17 ) and ( 711' ) ( 71'1 ). All of them verify: 1 ) the angle f is the lowest thus giving the highest S. 2 ) The angular separation of the peak positions for the each of these pairs is about 0,22 degree so that it can be measured directly. 3 ) The four pairs involve only weak reflections so that the peak-shift due to dynamical interactions need not be considered. The experiments were performed by using a microfocus 50 x 50 mm point source of X-rays monochromatized by a curved quartz ( 1011 ) crystal. The angular separation of each pair of reflections was measured by rotat.ing the crystal at a speed of 0,003 deg/min with an error of about 10-5 deg/min. Results for perfect and imperfect crystals are reported. === Mestrado === Física === Mestre em Física