Medida precisa de parâmetros da rede cristalina por difração múltipla de raios-X

Medida precisa de parâmetros da rede cristalina por difração múltipla de raios-X

Orientador: Stephenson Caticha Ellis === Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-07-17T06:53:03Z (GMT). No. of bitstreams: 1 PortugalPostigo_RembertoJose_M.pdf: 3689329 bytes, checksum: b8c02fdea8eb1f616c8f874...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Portugal Postigo, Remberto Jose
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 1979
Subjects:
Raios X - Difração
Cristais - Propriedades físicas
Online Access:PORTUGAL POSTIGO, Remberto Jose. Medida precisa de parâmetros da rede cristalina por difração múltipla de raios-X. 1979. 110 f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/277095>. Acesso em: 17 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277095

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