Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x

Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x

Orientador: Lisandro Pavie Cardoso === Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin === Made available in DSpace on 2018-07-19T09:37:56Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Morelhao_SergioLuiz_D.pdf: 2636232 bytes, checksum: 3e258ae02f4a5ddfbce10efc079c252c (MD5)...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Morelhão, Sergio Luiz
Other Authors: UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
Format: Others
Language:Portuguese
Published: [s.n.] 1994
Subjects:
Raios X - Difração
Semicondutores
Cristais
Online Access:MORELHÃO, Sergio Luiz. Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x. 1994. [112]f. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/278168>. Acesso em: 19 jul. 2018.
http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/278168

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