Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico

O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são suge...

Full description

Bibliographic Details
Main Author:	Orellana Hurtado, Carlos Jesus
Other Authors:	Susin, Altamiro Amadeu
Format:	Others
Language:	Portuguese
Published:	2007
Subjects:	Microeletrônica Testes : Circuitos integrados Microscopio eletronico : Varredura Depuração : Circuitos integrados
Online Access:	http://hdl.handle.net/10183/2245

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spelling	ndltd-IBICT-oai-www.lume.ufrgs.br-10183-22452019-01-22T01:19:34Z Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico Orellana Hurtado, Carlos Jesus Susin, Altamiro Amadeu Reis, Ricardo Augusto da Luz Wagner, Tiaraju Vasconcellos Microeletrônica Testes : Circuitos integrados Microscopio eletronico : Varredura Depuração : Circuitos integrados O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados. 2007-06-06T17:21:00Z 1986 info:eu-repo/semantics/publishedVersion info:eu-repo/semantics/masterThesis http://hdl.handle.net/10183/2245 000316300 por info:eu-repo/semantics/openAccess application/pdf reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul instacron:UFRGS
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description	O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.
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Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico

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