| Summary: | Darbe tiriamos magnetroniniu plazminiu (MP) būdu suformuotų Mg – Al – Zr lydinių morfologinės, korozinės ir puslaidininkinės savybės. Magnetroninio plazminio dulkinimo metodu buvo suformuotos 5Mg-Al-95Zr, 33Mg-Al-67Zr, 29Mg-Al-71Zr, 24Mg-Al-76Zr, 8Mg-Al-90Zr dangos ant stiklo paviršiaus. Atominės jėgos mikroskopo (AJM) metodu nustatyta, kad magnetroniniu plazminiu būdu suformuotos Mg – Al – Zr lydinių dangos charakterizuojamos mažesniais kristalitų dydžiais ir tolygesne mikrostruktūra. Fotoelektrocheminiais ir elektrocheminio impedanso spektroskopijos metodais ištirta lydinių korozinė elgsena 0,1 M (NH4)3BO3 + 0,1 M NaCl ( pH = 8,5) tirpale. Mott – Shottky analizės metodu nustatytas puslaidininkinių paviršiaus sluoksnių laidumo pobūdis: 5Mg-Al-95Zr, 33Mg-Al-67Zr, 29Mg-Al-71Zr, 24Mg-Al-76Zr, 8Mg-Al-90Zr dangų atveju jis donorinis (n – tipo). Aptartos Mott – Shottky metodo taikymo magnetroninėms dangoms tirti galimybės. === The aim of present work was to study corrosion properties of magnetron sputtered Mg – Al – Zr alloys and characterise semiconductor properties of the surface layers developed during corrosion. Atomic force microscopy (AFM) demonstrated, that sputtered alloys had a smaller grain size and a smoother surface. Fotocorrosion and electrochemical behaviour of tha alloys was studied in 0,1 M (NH4)3BO3 + 0,1 M NaCl ( pH = 8,5) solution. The Mott – Schottky plots of 5Mg-Al-95Zr, 33Mg-Al-67Zr, 29Mg-Al-71Zr, 24Mg-Al-76Zr, 8Mg-Al-90Zr electrodes showed a linear relationship between modified capacitance (C-2) on applied potential. It was concluded n – type semiconductivity for the layers on 5Mg-Al-95Zr, 33Mg-Al-67Zr, 29Mg-Al-71Zr, 24Mg-Al-76Zr, 8Mg-Al-90Zr alloys.
|
|---|
