一種用於數位電路偵錯之隨機測試方法

一種用於數位電路偵錯之隨機測試方法

碩士 === 國立交通大學 === 電子研究所 === 69 ===

Bibliographic Details
Main Authors: Zhang, Yue-Bei, 張耀北
Other Authors: Deng, Qi-Fu
Format: Others
Language:zh-TW
Online Access:http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/29463133727921845257
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