降低延遲錯誤測試中所消耗的功率
碩士 === 國立清華大學 === 電機工程學系 === 96 === 近年來在晶片掃描測試上有一些挑戰,包括了龐大的測試資料和高功率消耗。而龐大的測試資料會使得測試的時間提升,進而讓測試時的成本提高。測試時高功率的消耗可分兩方面來討論,第一方面是在移動週期的時候,過高的功率消耗會導致整個待測電路的溫度太高,這可能會使得待測電路燒毀在測試的流程中;而另一方面,在捕捉週期的時候,過高的功率消耗會使得測試時電壓瞬間下降太多,導致測試元件發生錯誤,所以捕捉到的值會是錯誤的,而會使得在測試的準確信下降。本篇論文提出了一個自動化測試樣本產生程式,能夠產生低測試樣本、低功率消耗的樣本組。本篇論文也針對了低...
Main Authors: | , |
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Other Authors: | |
Format: | Others |
Language: | en_US |
Online Access: | http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/96956991333814145150 |
Summary: | 碩士 === 國立清華大學 === 電機工程學系 === 96 === 近年來在晶片掃描測試上有一些挑戰,包括了龐大的測試資料和高功率消耗。而龐大的測試資料會使得測試的時間提升,進而讓測試時的成本提高。測試時高功率的消耗可分兩方面來討論,第一方面是在移動週期的時候,過高的功率消耗會導致整個待測電路的溫度太高,這可能會使得待測電路燒毀在測試的流程中;而另一方面,在捕捉週期的時候,過高的功率消耗會使得測試時電壓瞬間下降太多,導致測試元件發生錯誤,所以捕捉到的值會是錯誤的,而會使得在測試的準確信下降。本篇論文提出了一個自動化測試樣本產生程式,能夠產生低測試樣本、低功率消耗的樣本組。本篇論文也針對了低測試樣本提出了一個名為不確定值精簡 (X-Compaction)的方法。此外,本篇論文還針對了低功率消耗提出了一個調整式首選鄰近填充法(APAF)。
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