降低延遲錯誤測試中所消耗的功率

• Main Authors: Chun-Ru Shih, 施純儒
• Other Authors: Tsin-Yuan Chang
• Format: Others
• Language: en_US
• Online Access: http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/96956991333814145150

碩士 === 國立清華大學 === 電機工程學系 === 96 === 近年來在晶片掃描測試上有一些挑戰，包括了龐大的測試資料和高功率消耗。而龐大的測試資料會使得測試的時間提升，進而讓測試時的成本提高。測試時高功率的消耗可分兩方面來討論，第一方面是在移動週期的時候，過高的功率消耗會導致整個待測電路的溫度太高，這可能會使得待測電路燒毀在測試的流程中；而另一方面，在捕捉週期的時候，過高的功率消耗會使得測試時電壓瞬間下降太多，導致測試元件發生錯誤，所以捕捉到的值會是錯誤的，而會使得在測試的準確信下降。本篇論文提出了一個自動化測試樣本產生程式，能夠產生低測試樣本、低功率消耗的樣本組。本篇論文也針對了低測試樣本提出了一個名為不確定值精簡 (X-Compaction)的方法。此外，本篇論文還針對了低功率消耗提出了一個調整式首選鄰近填充法(APAF)。