Utökade tester enligt IEEE std 1149.1-2001 för Main Switch Board
Kravet på detta examensarbete var att utveckla tester för en produkt i prototypstadiet hos Ericsson i Katrineholm. Dessa tester ska framförallt användas som verktyg vid felsökning och utvecklas på kretskortsnivå. Detta innebär test för att hitta processrelaterade fel som t.ex. felaktiga lödningar. A...
Main Author: | Andersson, David |
---|---|
Format: | Others |
Language: | Swedish |
Published: |
Linköpings universitet, Institutionen för teknik och naturvetenskap
2005
|
Online Access: | http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-97916 |
Similar Items
-
Improved Signal Integrity in IEEE 1149.1 Boundary Scan Designs
by: Taboada, Efren De Jesus Rangel
Published: (2004) -
IEEE Std. 1149.4 Compatible Analog BIST Methodology
by: Te-Sung, Tu, et al.
Published: (2004) -
IEEE Std. 1149.5 MTM-Bus Slave Module Chip Design and Its Application to Hierarchical System Test
by: Cai, Zhong-Hong, et al.
Published: (1996) -
Complete Interconnect BIST Using IEEE 1149 Boundary Scan
by: Jane, Shaing-Wang, et al.
Published: (1997) -
The scope of bargaining under executive order 11,491.
by: Baker, James N.
Published: (2012)