Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami

Bibliographic Details
Main Author: Blumentrit, Petr
Other Authors: Pavluch, Jiří
Format: Dissertation
Language:Czech
Published: 2006
Online Access:http://www.nusl.cz/ntk/nusl-270034
id ndltd-nusl.cz-oai-invenio.nusl.cz-270034
record_format oai_dc
spelling ndltd-nusl.cz-oai-invenio.nusl.cz-2700342017-06-27T04:37:37Z Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami Nondestructive depth profiling of very thin metal layers by means of electron spectroscopic methods Blumentrit, Petr Pavluch, Jiří Starý, Vladimír 2006 info:eu-repo/semantics/masterThesis http://www.nusl.cz/ntk/nusl-270034 cze info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
collection NDLTD
language Czech
format Dissertation
sources NDLTD
author2 Pavluch, Jiří
author_facet Pavluch, Jiří
Blumentrit, Petr
author Blumentrit, Petr
spellingShingle Blumentrit, Petr
Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami
author_sort Blumentrit, Petr
title Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami
title_short Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami
title_full Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami
title_fullStr Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami
title_full_unstemmed Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami
title_sort nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami
publishDate 2006
url http://www.nusl.cz/ntk/nusl-270034
work_keys_str_mv AT blumentritpetr nedestruktivnihloubkoveprofilovanivelmitenkychkovovychvrstevelektronovespektroskopickymimetodami
AT blumentritpetr nondestructivedepthprofilingofverythinmetallayersbymeansofelectronspectroscopicmethods
_version_ 1718466933688369152