Nedestruktivní hloubkové profilování velmi tenkých kovových vrstev elektronově-spektroskopickými metodami
Main Author: | Blumentrit, Petr |
---|---|
Other Authors: | Pavluch, Jiří |
Format: | Dissertation |
Language: | Czech |
Published: |
2006
|
Online Access: | http://www.nusl.cz/ntk/nusl-270034 |
Similar Items
-
Studium vlastností tenkých vrstev Sn a SnO2 připravených plazmochemickými metodami
by: Strýhal, Zdeněk
Published: (2008) -
Studium tenkých vrstev oxidu ceru metodami rastrovací tunelové mikroskopie (STM) a spektroskopie (STS)
by: Dvořák, Filip
Published: (2010) -
Komplexní difrakční studium tenkých polykrystalických vrstev
by: Šimek, Daniel
Published: (2008) -
Optické vlastnosti tenkých vrstev scintilačních materiálů
by: Onderišinová, Zuzana
Published: (2010) -
Optoelektronické a strukturní vlastnosti tenkých vrstev křemíku
by: Ledinský, Martin
Published: (2009)