Prosessimonitorilohko komponenttiparametrien mittaamiseen IC-prosessissa

Tässä diplomityössä perehdytään IC-valmistusprosessista aiheutuviin prosessivaihteluihin ja toteutetaan prosessimonitorilohko prosessivariaatioiden havainnointiin. Tavoitteena oli saada prosessimonitorilohko mittaamaan komponenttiparametrien muutoksia prosessivariaation suhteen. Tutkittavia parametr...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Haapalahti, J. (Jaakko)
Format: Dissertation
Language:Finnish
Published: University of Oulu 2017
Subjects:
Online Access:http://urn.fi/URN:NBN:fi:oulu-201706082651
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:fi:oulu-201706082651