Architectures de réparation des mémoires pour des hautes densités des défauts
La miniaturisation technologique augmente la sensibilité des circuits intégrés auxdéfauts et nous observons à chaque nouvelle génération technologique une dégradation rapidedu rendement de fabrication et de la fiabilité. Les mémoires occupent la plus grande partie dela surface des SoCs et contiennen...
| Main Author: | |
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| Other Authors: | |
| Language: | en |
| Published: |
2014
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2014GRENT090/document |