Fiabilité Porteurs Chauds (HCI) des transistors FDSOI 28nm High-K grille métal
Au sein de la course industrielle à la miniaturisation et avec l’augmentation des exigences technologiques visant à obtenir plus de performances sur moins de surface, la fiabilité des transistors MOSFET est devenue un sujet d’étude de plus en plus complexe. Afin de maintenir un rythme de miniaturisa...
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| Language: | fr |
| Published: |
2015
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2015AIXM4335 |