Circuits dédiés à l'étude des mécanismes de vieillissement dans les technologies CMOS avancées : conception et mesures
Dans la chaine de développement des circuits, une attention particulière doit être portée sur le comportement en fiabilité des dispositifs MOS comme briques de base des circuits avancés CMOS lors du développement d’une technologie. Au niveau du dispositif, les comportements des différents mécanismes...
Main Author: | Saliva, Marine |
---|---|
Other Authors: | Aix-Marseille |
Language: | fr |
Published: |
2015
|
Subjects: | |
Online Access: | http://www.theses.fr/2015AIXM4337 |
Similar Items
-
PERFORMANCE AND RELIABILITY ANALYSIS FOR VLSI CIRCUITS USING 45nm TECHNOLOGY
by: Navaid Zafar Rizvi, et al.
Published: (2015-07-01) -
Estimation de la performance des circuits numériques sous variations PVT et vieillissement
by: Altieri scarpato, Mauricio
Published: (2017) -
Caractérisation et modélisation de la fiabilité relative au piégeage dans des transistors décananométriques et des mémoires SRAM en technologie FDSOI
by: Subirats, Alexandre
Published: (2015) -
Caractérisation et modélisation de la fiabilité relative au piégeage dans des transistors décananométriques et des mémoires SRAM en technologie FDSOI
by: Subirats, Alexandre
Published: (2015) -
Defect Induced Aging and Breakdown in High-k Dielectrics
Published: (2018)