Fiabilité des transistors MOS des technologies à mémoires non volatiles embarquées
Ce travail de thèse traite des différents phénomènes de dégradation que peuvent subir les transistors MOS suivant leurs applications sur les technologies CMOS avec mémoires non-volatiles embarquées. Les transistors MOS pour application aux mémoires non volatiles à stockage de charge qui sont enclins...
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| Language: | fr |
| Published: |
2015
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| Online Access: | http://www.theses.fr/2015AIXM4709/document |