Etude par spectro-microscopie électronique d'aciers ODS non irradiés et implantés par hélium

Des aciers renforcés par dispersion de nano-particules d'oxide de titane et d'yttrium (Y-Ti-O ODS), irradiés et non irradiés, ont été éxaminés par microscopie électronique en transmission à balayage couplée à la spectroscopie de perte d'énergie des électrons (STEM-EELS) pour étudier l...

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Bibliographic Details
Main Author: Badjeck, Vincent
Other Authors: Université Paris-Saclay (ComUE)
Language:fr
Published: 2016
Subjects:
Mva
Online Access:http://www.theses.fr/2016SACLS086

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