Showing 1 - 1 results of 1 for search 'ELECTRIC CIRCUIT', query time: 1.17s Refine Results
  1. 1
    Caracterització a escala nanomètrica de la degradació I. Ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant CAFM
    by Porti i Pujal, Marc
    Published 2003
    “... dispositiu o circuit del qual forma part. Per aquest motiu, a fi de determinar el grau de sensibilitat dels...”
    Get full text
    Get full text
    Doctoral Thesis
Search Tools: Get RSS Feed — Email this Search