Intercomparación en Mediciones Superficiales
La trazabilidad en mediciones superficiales de micro y nanoestructuras es condición ineludible para garantizar la calidad en proyectos de innovación, investigación y desarrollo en el espectro disciplinar que abarca las ciencias químicas, biológicas, de materiales, siendo además un requisito para med...
| Main Authors: | , , , , |
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| Format: | Article |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Universidad Tecnologica Nacional
2019-05-01
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| Series: | Tecnología y Ciencia |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/281 |