BADANIA PORÓWNAWCZE SPRAWNOŚCI UKŁADÓW DC/DC Z TRANZYSTORAMI SI IGBT ORAZ TRANZYSTORAMI SIC TYPU MOSFET

W artykule zaprezentowano badania porównawcze sprawności dwóch dwukierunkowych przekształtników DC/DC wykonanych w topologii podwójnego mostka H. Badane przekształtniki wykonano w technologii krzemowej z tranzystorami IGBT oraz w technologii węglika krzemu z tranzystorami SiC MOSFET. Rezultatem bad...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Karol Fatyga, Łukasz Kwaśny, Bartłomiej Stefańczak
Format: Article
Language:English
Published: Lublin University of Technology 2018-05-01
Series:Informatyka, Automatyka, Pomiary w Gospodarce i Ochronie Środowiska
Subjects:
SiC
Online Access:https://ph.pollub.pl/index.php/iapgos/article/view/1017