Diagnóstico de Sistemas de Eventos Discretos Controlados: Un Enfoque Basado en Crónicas y Análisis Modular Usando Modelos de Autómatas
Resumen: Debido a la complejidad de los procesos industriales, se necesitan diagnosticadores más sencillos y eficientes con reducción en las dimensiones de sus modelos. El diagnóstico modular ha mostrado ser eficiente en la reducción de la complejidad asociada a los sistemas de eventos discretos. Es...
| Main Authors: | , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | Spanish |
| Published: |
Universitat Politecnica de Valencia
2014-04-01
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| Series: | Revista Iberoamericana de Automática e Informática Industrial RIAI |
| Online Access: | http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1697791214000090 |