Генерация тестовых программ для подсистемы управления памятью микропроцессора

В работе рассматривается методика генерации тестовых программ, предназначенных для функционального тестирования подсистемы управления памятью микропроцессора. Предлагаемый подход основан на формальной спецификации инструкций, работающих с памятью, и устройств подсистемы, включая буфер трансляции адр...

Full description

Bibliographic Details
Main Authors: Д.Н. Воробьев, А.С. Камкин
Format: Article
Language:English
Published: Ivannikov Institute for System Programming of the Russian Academy of Sciences 2009-01-01
Series:Труды Института системного программирования РАН
Online Access:https://www.ispras.ru/en/proceedings/isp_17_2009/isp_17_2009_119/