Análisis de perfiles de difracción de una aleación Cu –2 % en peso Cr –6 % en peso Mo, aleada mecánicamente
A través del análisis de perfiles de difracción de rayos X es posible obtener información válida de la estructura y propiedades de los materiales. Es una poderosa herramienta para caracterización de microestructuras de materiales nanoestructurados. En el presente trabajo se preparó una aleación tern...
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| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Consejo Superior de Investigaciones Científicas
2008-06-01
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| Series: | Revista de Metalurgia |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://revistademetalurgia.revistas.csic.es/index.php/revistademetalurgia/article/view/112 |