Eine Test- und Ansteuerschaltung für eine neuartige 3D Verbindungstechnologie
In der vorliegenden Arbeit wird eine Built-In Self-Test Schaltung (BIST) vorgestellt, welche die vertikalen Inter-Chip-Verbindungen in einer neuartigen 3D Schaltungstechnologie auf ihre Funktionalität zur Datenübertragung überprüft. Die 3D Technologie beruht auf der Stapelung mehrerer aktiver Silizi...
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|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | deu |
| Published: |
Copernicus Publications
2005-01-01
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| Series: | Advances in Radio Science |
| Online Access: | http://www.adv-radio-sci.net/3/305/2005/ars-3-305-2005.pdf |