Análise da superfície de grês porcelanato por microscopia de força atômica Porcelain stoneware tile surface analysis by atomic force microscopy
A superfície de porcelanatos polidos foi investigada através da Microscopia de Força Atômica (AFM). Ênfase foi dada à investigação dos parâmetros de rugosidade e brilho que estão relacionados com a evolução do processo de polimento da superfície do porcelanato. A rugosidade da superfície é uma carac...
| Main Authors: | , , |
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| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Associação Brasileira de Cerâmica
2011-06-01
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| Series: | Cerâmica |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0366-69132011000200007 |