Análisis estructural y morfológico de películas de nitruro de aluminio obtenidas por deposición de láser pulsado

En este trabajo, se presentan los resultados preliminares de películas nanoestructuradas de nitruro de aluminio (AlN), que fueron depositadas con el método de deposición por láser pulsado (PLD). Al efecto, se utilizó un láser Nd:YAG (¿=1064nm), que impacto un blanco de aluminio de alta pureza (4N),...

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Bibliographic Details
Main Authors: Jaime Andrés Pérez Taborda, Henry Riascos Landázuri, Francy Nelly Jiménez García, Julio César Caicedo Angulo
Format: Article
Language:English
Published: Editorial Neogranadina 2010-12-01
Series:Ciencia e Ingeniería Neogranadina
Subjects:
DRX
SEM
EDX
Online Access:https://revistas.unimilitar.edu.co/index.php/rcin/article/view/279